Низкая цена
Всего 249a за скачивание одной диссертации
Скидки
75 диссертаций за 4900a по акции. Подробнее
О проекте

Электронная библиотека диссертаций — нашли диссертацию, посмотрели оглавление или любые страницы за 3 рубля за страницу, пополнили баланс и скачали диссертацию.

Я впервые на сайте

Отзывы о нас

Атомно-силовая микроскопия кристаллов и пленок со сложной морфологией поверхности : диссертация ... доктора физико-математических наук : 01.04.18

Год: 2013

Номер работы: 29413

Автор:

Стоимость работы: 249 e

Без учета скидки. Вы получаете файл формата pdf

Оглавление и несколько страниц
Бесплатно

Вы получаете первые страницы диссертации в формате txt

Читать онлайн
постранично
Платно

Просмотр 1 страницы = 3 руб



Оглавление диссертации:

1.1 ХАРАКТЕРИСТИКИ И ОБЛАСТИ ПРИМЕНЕНИЯ АТОМНО- СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ Изобретение сканирующего туннельного микроскопа в 1981 г. Г.Биннингом и Х.Рорером в Цюрихском отделении фирмы IBM [1] инициировало работы над созданием новых видов микроскопов, основанных на схожем принципе действия. В результате через пять лет Г.Бинниг, К.Квэйт и Ш.Гербер [2] разработали более универсальный прибор - атомно-силовой микроскоп. В отличие от сканирующей туннельной микроскопии (СТМ), в основе которой лежит измер

Динамика движения ступеней на поверхностях равновесная морфология поверхности определяются кристалла, а также взаимодействиями и # *,{ Ы\ „ •I "II I конфигурациями атомного масштаба. Поэтому изучение методом АСМ разных кристаллографических контролирующие поверхностей кристалла. в процессе роста кристаллов Рассмотрим характерные может способствовать выработке взгляда на основные факторы атомного масштаба, рост примеры использования топографических изображений поверхности для анализа про

1.4.2. Изучение поверхности сегнетоэлектрических кристаллов Известна важная роль поверхности в сегнетоэлектрических явлениях. Поверхностные слои наряду с дефектами в объеме кристалла оказывают значительное, а в случае очень тонких слоев - определяющее влияние на диэлектрические параметры сегнетоэлектриков. Появление АСМ открыло принципиально новые возможности для исследования сегнетоэлектриков, а именно, возможность прямого наблюдения морфологии поверхности с высоким пространственным разрешен

МИКРОСКОПИИ В данной главе предложено комплексное решение ряда проблем, которые связаны с повышением достоверности изображений, получаемых атомно-силовой микроскопии в воздушной среде. Первый раздел главы посвящен инженерии знаний в АСМ. Предложена концептуальная модель представления знаний об артефактах изображений, нацеленная на создание современных обучающих программ и экспертных систем. Во втором разделе приведены данные по оригинальной технической разработке нового инструментария для АСМ

Это самая многочисленная и основополагающая группа артефактов. Два основных конструктивных элемента микроскопа ~ сканер и зонд - являются основными источниками сканера инструментальных (нелинейность, артефактов. гистерезис, крип-, Артефакты старение, пьезоэлектрического перекрестные помехи) проистекают от свойств пьезокерамики и конструкции сканера. Причины возникновения этих искажений достаточно подробно изучены и описаны в [126-129,158]. В основном эти проблемы одинаковы для сканирую

Наличие человеческого фактора естественно приводит к ошибкам при установке параметров режимов работы атомно-силового микроскопа. В АСМ данные о рельефе можно понять, поверхности на можно получить, зависимость используя 3 режима: контактный, прерывисто-контактный и бесконтактный. Различия в режимах посмотрев силы межмолекулярного взаимодействия от расстояния между атомами зонда и образца (Раздел

1.2, рис.

1.3). Она дает два крайних случая, где действует только сила отталкивания (ко

Источником ошибок иногда становится само состояние поверхности образцов, которая может быть загрязненной в прямом смысле (рис.

2.16а). Например, реальный нанорельеф поверхности кристалла берилла обнаруживается только после дополнительной очистки от адсорбированных слоев (рис.

2.16 б). О 2 6 8 10 12 14 16 рт 0,5 1,0 1,5 2,0 (т 2,5 3,0 Рис.

2.16 Топографическое изображение поверхности роста кристалла бериллия, а - до и б - после очистки. Прерывисто-контактный режим 76

2.2.1. Состав и основные технические характеристики метрологического комплекса для АСМ При создании чистой зоны для АСМ были использованы принципы конструирования газообменным чистого устройством помещения на класса «TRACKPORE мембран ROOM» с основе трековых [178-180], возможностями рассмотрим комплексов в управлении принципы климатом и усиленной чистых антивибрационной защитой. основные конструирования помещений для АСМ, технические характеристики двух функционирующих на их основе и достигну

2.2.2. Основные преимущества работы микроскопа в условиях и разработкой лабораторных технологий создания наноразмерных структур методами сканирующей зондовой искусственного климата Обеспечение и поддержание чистоты воздушной атмосферы. Традиционная техника чистых помещений радикально решает данную проблему, так как в чистой зоне контролируется счетная концентрация аэрозольных частиц, и она построена и используется таким образом, чтобы свести к минимуму поступление, генерацию и накопление час

2.2.3. Устранение артефактов, вызванных наличием статического заряда на поверхности Относительная искусственного влажность в холодный период при отсутствии увлажнения в помещениях опускается существенно ниже регламентируемых значений, которые составляют в среднем 50-60%. При нагреве воздуха зимой до комнатной температуры 20 °С относительная влажность в помещениях падает практически до 0%. Для сравнения следует указать, что относительная влажность воздуха в пустыне Сахара не опускается ниже 1

2.3. РАЗРАБОТКА СТАНДАРТНЫХ СТРУКТУР ДЛЯ КАЛИБРОВКИ ПЬЕЗОСКАНЕРА АТОМНО-СИЛОВОГО МИКРОСКОПА ПО ВЫСОТЕ Развитие метода АСМ предполагает поиск и разработку различных тестовых структур, которые позволяли бы контролировать нелинейность пьезосканера микроскопа и изменение формы зонда в процессе работы, выбирать оптимальные режим и параметры сканирования для объектов исследования различной природы. Нелинейность пьезосканера является источником искажений АСМ-изображения (Раздел

2.1). Если про

Калибровка атомно-силового микроскопа по Z обычно выполняется с помощью тестового объекта известной высоты. Поскольку невозможно подобрать единый тестовый объект для измерения высот, различающихся в нанометровом диапазоне размеров на 5 порядков, желательно иметь набор эталонных структур для разных диапазонов высот. Повышение точности измерений атомно-силового микроскопа связано с необходимостью поиска новых эталонов и стандартных структур, стабильных во времени и по отношению к внешним воздей

ГЛАВА 3. РАЗВИТИЕ МЕТОДИЧЕСКИХ ОСНОВ ОЦЕНКИ ШЕРОХОВАТОСТИ И ЛОКАЛЬНОЙ СТРУКТУРЫ ПОВЕРХНОСТИ КРИСТАЛЛОВ И ПЛЕНОК В АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ Получение топографического изображения с высоким пространственным разрешением и без искажений - самый важный этап, с которого начинается исследование любого объекта (об этом говорилось в предыдущей главе). Следующая задача - наиболее полно и адекватно описать свойства микрорельефа поверхности изучаемого объекта, используя возможности цифровой об